Analiza structurală cu raze X (XRD, de asemenea : analiza de difracție cu raze X) este una dintre metodele de difracție pentru studierea structurii unei substanțe. Această metodă se bazează pe fenomenul de difracție de raze X pe o rețea cristalină tridimensională.
Fenomenul de difracție de raze X prin cristale a fost descoperit de Laue , justificarea teoretică a fenomenului a fost dată de Wolfe și Bragg ( condiția Wolfe-Bragg ). Ca metodă, analiza de difracție cu raze X a fost dezvoltată de Debye și Scherrer .
Metoda vă permite să determinați structura atomică a unei substanțe, care include grupul spațial al celulei elementare , dimensiunea și forma acesteia, precum și să determinați grupul de simetrie cristalină .
Până în prezent, analiza de difracție cu raze X este cea mai comună metodă de determinare a structurii unei substanțe datorită simplității, versatilității (aplicabile studiului oricăror molecule) și relativ ieftine [1] .